品管項目參數設定
可依實際需求自定品管項目(計量/計數)與管制條件；不同的管制條件內容(如客戶、產品、設備、模具…)，組成各張管制圖，使用者可自訂管制規格界限(USL，LSL，UCL，CL，LCL)、分組取樣數、及管制法則(WestElectricRules及自定的Rules)，或抽樣水準、允收水準(AQL)，以作為線上管制及分析的判別，具有完整與良好的系統彈性及擴充性。

資料收集及管制
計數及計量品質資料的收集提供機台連線、人為輸入以及轉檔三種收集方式。檢驗過程中，系統會主動取得WIP生產資料、相關的管制設定與檢測樣本，以提供適當的輸入介面，並依據管制設定或抽樣計劃之允收允退標準，繪製管制圖(Xbar-R、Xbar-S、X-Rm)，即時判定檢驗結果，產生品質異常單，寄發異常通知。

品質分析
提供多層別(如客戶、產品、設備、模具…)的統計分析處理，包括檢測批品質狀況查詢、各相關管制圖分析(Xbar-R、Xbar-S、X-Rm、直方圖、柏拉圖、…)、統計報表、管制圖查覽等等功能。經由各項統計分析的結果，可修正相關的管制設定，並可提供品管、工程、製造…等相關人員，作為製程能立即產品品質的目標設定、異常原因的處理或製程改善之主要依據。

SPC系統特色
WIP系統提供SPC企業邏輯，可直接在WIP系統中輸入檢測值並完成線上管制圖管控，完整地整合兩套系統
支援SPC獨立執行與WIP整合執行兩套運行模式
支援SPC獨立執行與WIP整合執行兩套運行模式
包含EDC模組不僅做品管資料分析並且提供檢測資料的收集
可依據品管需求設定不同的管制因子組合，及其管制規格、法則，以符合客戶或廠內的品管要求
提供Xbar-R、Xbar-S、X-Rm、P-Chart等管制分析圖，及直方圖、柏拉圖
提供複合式、多層別的品質資料彙整分析處理
提供線上檢測機台通訊連線數據收集介面，減少人為輸入
具有線上即時管制及異常處理功能，以減少不良品之產生